半導体自動検査装置（ATE）
半導体自動検査装置（ATE）では、正確な診断と故障検出を確実に行うために、超高信頼・高速のスイッチングと信号絶縁が求められます。Standex Detectは、高密度・多チャネルシステム向けに設計された小型・高性能のリレー、センサ、フォトカプラにより、ATE OEMを支援します。
高速テストプラットフォーム向けスイッチング精度：半導体検証からPCB試験まで
ベンチの中枢を支える：高密度ATEシステム向け高信頼コンポーネント
半導体自動検査装置（ATE）プラットフォームは、大量の電子機器試験を支える中核基盤です。超高速スイッチング、高い信号品質、そして高密度に実装された数千チャネルにわたる確実な絶縁が必要です。これらのシステムでは、性能劣化なく高速・反復の試験サイクルに耐える小型で堅牢なコンポーネントが求められます。
当社のソリューションは、ATE環境の厳しい要求に対応するよう設計されています。精密リードスイッチ、センサ、リレーにより、精度、速度、長期信頼性を確保し、OEMを支援します。
以下は、ATEシステムにおける安全かつ信頼性の高い動作を支える主要な技術用途です。
ATE向けコア機能：
- リードリレー：超低リーク・高絶縁のスイッチングによる信号品質
- フォトカプラ：高速試験回路におけるガルバニック絶縁とEMI保護
- リードスイッチ：長寿命と安定した性能のための気密封止
- カスタムアセンブリ：ATEプラットフォーム向けモジュール式スイッチングソリューション
小型・認証取得・多チャネル環境対応設計
半導体自動検査装置（ATE）でStandex Detectと組む理由
試験システムには、精度と再現性が求められます。当社のリードスイッチ、センサ、リレーは、自動試験環境における正確な測定、制御、フィードバックを実現します。
- 高振動環境での実績ある性能
- テスト・計測システム向けカスタムソリューション
- 組込み試験プラットフォーム向け小型センサ
- グローバルなエンジニアリング支援と迅速な試作
認証・適合
ISO 9001 – 品質マネジメント
RoHS – 環境規制対応
IP67等級設計 – 防塵・防水
UL & CE – 電気安全
REACH – 化学物質規制対応
