SHV-2Aシリーズ リードリレー
SHV-2A Seriesは、高密度・マルチチャネルマトリクス向けにコンパクトフットプリントで半導体自動検査装置（ATE）用途に最適化された、高電圧デュアル接点（2 Form A）、シングルインライン（SIL）のリードリレーです。最大1,000 VDCまでのスイッチングに対応し、絶縁破壊電圧は最大2,000 VDC、要望により3,000 VDCにも対応します。SHV-2A Seriesは、自動試験装置（ATE）、EV / ESS、医療検査システム、パワーエレクトロニクスなどの要求の厳しい用途で、高電圧性能、優れた絶縁性能、高い信号忠実度を実現します。
モールドハウジングに封止されたSHV-2A Seriesは、測定の信頼性と安全性を維持するために、超高絶縁抵抗（IR > 10TΩ）を備えます。デュアル高電圧接点を備えた独自のコンパクトフォームファクタにより、スペース制約のある設計に最適です。接点構成は2 Form Aで、コイル電圧は5 VDCを用意し、性能向上のためのオプションとしてダイオードも選択可能です。
- 最大1,000 VDCまでの高電圧スイッチング
- 最大3,000 VDCまでの絶縁破壊電圧
- 超高絶縁抵抗（>10 TΩ）
- デュアルHV接点を備えたコンパクトなSILモールドハウジング
- 接点構成：2 Form A
- コイル電圧オプション：5 VDC
- 定格電力：最大100 W
- コイル抑制用ダイオード保護（オプション）
- スルーホール（THT）実装
- IEC 61810に準拠して認定
| コイル電圧（VDC） | 05 |
| コイル抵抗（Ω） | 225 |
| 接点構成 | 2 Form A |
| 最大定格電力 | 100W/1,000VDC/1A |
- 半導体自動検査装置（ATE）: 精密な高電圧測定および信号ルーティング向けの高密度リレーアレイ
- 高電圧ケーブル／ハーネス試験: EV、航空宇宙、産業システムにおける絶縁／導通試験向けマトリクススイッチング
- 半導体テストシステム: 低リークおよび低容量のスイッチングパスが求められるパラメトリック／ミックスドシグナル試験
- 機能PCB試験: ミックスドシグナル環境における高電圧ノードおよび高感度測定ノードのコンパクトスイッチング
- バッテリー／エネルギー貯蔵試験: バッテリーモジュールおよびパックにおける高電圧ルーティングと絶縁測定