SHV-2Aシリーズ リードリレー
SHV-2A Seriesは、高密度のマルチチャネル・マトリクス向けに、コンパクトなフットプリントでATE用途に設計された高電圧デュアル接点（Form 2A）のシングル・イン・ライン（SIL）リードリレー。最大1,000 VDCまでのスイッチングに対応し、耐電圧は最大2,000 VDC（要望により3,000 VDC）で、SHV-2A Seriesは高電圧性能、優れた絶縁性、そして高い信号忠実度を提供する。自動試験装置（ATE）、EV / ESS、医療用テストシステム、パワーエレクトロニクスなどの要求の厳しい用途に最適。
モールド成形ハウジングに収められたSHV-2A Seriesは、超高絶縁抵抗（IR > 10TΩ）を備え、測定の信頼性と安全性を維持。デュアルHV接点を備えた独自のコンパクトなフォームファクタにより、省スペース設計に理想的。DPST-NO（2 Form A）の接点構成で提供され、コイル電圧は5 VDC、性能向上のためのオプションとしてダイオードも用意。
- 最大1,000 VDCまでの高電圧スイッチング
- 最大3,000 VDCまでの絶縁破壊電圧
- 超高絶縁抵抗（>10 TΩ）
- デュアルHV接点を備えたコンパクトなSILモールドハウジング
- 接点構成：DPST-NO（2 Form A）
- コイル電圧オプション：5 VDC
- 定格電力：最大100 W
- コイルサプレッション用のオプションダイオード保護
- スルーホール（THT）実装
- IEC 61810に準拠して認定
| コイル電圧（VDC） | 05 |
| コイル抵抗（Ω） | 225 |
| 接点形式 | 2A |
| 定格電力 最大 | 100W/1,000VDC/1A |
- Automated Test Equipment (ATE): 精密な高電圧測定と信号ルーティング向けの高密度リレーアレイ
- High-Voltage Cable and Harness Testing: EV、航空宇宙、産業システムにおける絶縁および導通試験のためのマトリクススイッチング
- Semiconductor Test Systems: 低リーク・低容量のスイッチング経路を必要とするパラメトリック試験およびミックスドシグナル試験
- Functional PCB Testing: ミックスドシグナル環境における高電圧ノードおよび高感度測定ノードのコンパクトなスイッチング
- Battery and Energy Storage Testing: バッテリーモジュールおよびパックにおける高電圧ルーティングと絶縁測定