Cシリーズ リードリレー
C Seriesは、省スペース用途での高周波信号スイッチング向けに設計された、コンパクトで高密度実装の表面実装リードリレーです。優れた内部シールドと最大7 GHzまでのRF性能により、信頼性や信号品質を損なうことなく、同等モデルと比べてサイズを10%削減します。
C SeriesはForm A構成で提供され、コイル電圧3.3 VDCおよび5 VDCに対応し、最大10 W、100 VDC、0.5 Aの定格です。薄型のJリード設計により、自動実装およびRF、通信、テストシステムにおける高密度PCBレイアウトに最適です。長い動作寿命と安定した性能により、C Seriesは要求の厳しい高速用途で信頼されるソリューションです。
- 最大7 GHz（標準5 GHz）までのRFスイッチング対応
- 同等モデル比10%小型フットプリントのコンパクトな表面実装設計
- 信号干渉低減に有効な優れた内部シールド
- Form A接点構成
- 定格：10 W、100 VDC、0.5 A
- コイル電圧オプション：3.3 VDC、5 VDC
- 高密度表面実装向けJリードパッケージ
- RF環境での長寿命と安定性能
- グローバル環境規格に対応したRoHS準拠
| コイル電圧（VDC） | 3.3, 5 |
| コイル抵抗（Ω）最大 | 150 |
| 接点構成 | Form A（SPST）ノーマリーオープン（N.O.） |
| 定格電力 最大 | 10W/100VDC/0.5A |
| 挿入損失（-3dB低下点）GHz | ~ 5 GHz（7 GHzオプション） |
| 寿命（1V 10mA時） | > 3億回のスイッチングサイクル |
- 半導体自動検査装置（ATE）: ロードボードにおける高周波信号スイッチング
- 通信:コンパクトなネットワークモジュールにおけるRFルーティング
- 無線通信: 高速システムにおける信号整合性
- 機能PCBテストシステム:高密度テストアレイにおける高信頼スイッチング
- データ収集システム:コンパクトな計測機器における高精度信号制御
- ICウェハテスト: 半導体テストセットアップにおける高速リレースイッチング