寿命試験データの要件
リードスイッチの寿命試験データは、実際のスイッチング条件によって大きく変わることがある。長年にわたり、さまざまなリードスイッチの改良が進み、信頼性が向上してきた。実際、リードスイッチは無負荷や信号負荷であれば、10億回規模の信頼性の高い動作が可能。多くの場合、接触抵抗は5～10 mΩの範囲でわずかに変化する程度。リードスイッチの長寿命は、気密封止（ハーメチックシール）構造と摩耗部品がないことによるもの。
当社は、長さ7 mmから50 mmまでの複数タイプのスイッチを提供しており、nanoVoltsから10,000 Voltsまでの電圧、femptoAmpsから5 Ampsまでの電流、さらにDCから最大6 GigaHzまでのスイッチングに対応できる。一般的に、当社はセンサー用途またはリレー用途向けに、Mercury接点、Tungsten接点、Rhodium接点、Ruthenium接点などのリードスイッチを提供しており、いずれも用途要件に適している。
寿命試験データの最適化
必要な寿命要件を最適化しようとする場合は、必ず当社の注意事項（選定上の注意）を参照してね。機械面・電気面の両方から、いくつかの懸念点について説明している。特に負荷のセクションでは、インダクタンス負荷、容量性負荷、突入電流負荷などをスイッチングする際に重要な知見が得られる。
以下のページは、所定の電圧と電流に対して期待される寿命を示す一般的な寿命負荷曲線。最も重要なのは、表示されているものと異なる負荷の場合、特定の寿命を安易に想定しないこと。必要な寿命に対しては、実際のスイッチング条件下で回路をテストするのが常に最善。これらの寿命負荷グラフは、純粋にDC負荷条件でのスイッチングを表している。現実の世界では、多くの場合そのような条件は存在しない。だから、必要な寿命に対して、必ず実際の負荷条件で回路をテストしてね。
特定の用途について確信が持てない場合は、世界中のStandex各拠点にいるアプリケーションエンジニアがサポートできるよ。
